浅谈半导体器件静电损伤及防护措施

来源 :电子产品可靠性与环境试验 | 被引量 : 0次 | 上传用户:endest
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本文论述了半导体器件静电损伤及防护措施,阐述了静电放电(ESD)失效的敏感电压、静电放电模型、静电对CMOS电路的损伤、提高器件抗静电损伤的方法、无静电工作环境的建立以及包装、储存、运输时防静电的措施。
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