【摘 要】
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对于两性碳氟表面活性剂C8F17及其与阳离子表面活性剂CTAB、阴离子表面活性剂SDBS复配体系,分别以Ce3和芘为探针,使用荧光光谱法研究体系临界胶团浓度（cmc）,并且与表面张力法相
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对于两性碳氟表面活性剂C8F17及其与阳离子表面活性剂CTAB、阴离子表面活性剂SDBS复配体系,分别以Ce3和芘为探针,使用荧光光谱法研究体系临界胶团浓度（cmc）,并且与表面张力法相比较来探究此方法的可行性.结果表明,Ce3探针可以进行碳氟表面活性剂C8 F17及其复配体系的临界胶束浓度的测定,芘探针的荧光光谱法只能进行C8F17复配体系的临界胶束浓度的测定,三种测定方法测定的结果一致,表明Ce3＋是可以作为研究表面活性剂性质的荧光探针.
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