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目的 采用根管显微镜研究在治疗上颌第一磨牙根管过程中,由于MB2遗漏造成治疗失败病例的比例.方法 选取我院2018年3月到2019年9月由于各种原因导致根管治疗失败的上颌第一磨牙病例62例,在FS2012/UNIVERSA高管显微镜下通过寻找探查并且预备MB2根管的方式来计算检出率的比例.结果 把首次根管治疗失败的上颌第一磨牙采用根管显微镜进行再次治疗,MB2根管的检出率为79％,首次治疗MB2根管的遗漏率为47％.结论 采用传统的治疗方法很容易造成MB2根管遗漏,采用根管显微镜可以有效降低MB2根管的遗漏率,从而提高根管治疗的成功率.