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本文对采用直接压片X-射线荧光光谱测定电解质分子比及其氧化铝和杂质元素含量的方法进行了探讨与研究,试验结果表明该方法分析结果可靠,可快速分析电解质的成分组成,能满足电解槽的控制需要.
X-射线荧光光谱法快速测定电解质的BR、CaF2、MgF2、KF及Al2O3含量
【摘 要】
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本文对采用直接压片X-射线荧光光谱测定电解质分子比及其氧化铝和杂质元素含量的方法进行了探讨与研究,试验结果表明该方法分析结果可靠,可快速分析电解质的成分组成,能满足
【机 构】
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中铝股份广西分公司中心试验室
【出 处】
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轻金属
【发表日期】
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2003年9期
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