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存储器具有存储容量大、集成度高以及工作速度快等特点，被广泛应用于现代电路设计中；在电路中，存储器能否正常工作，将直接影响整个系统工作状态是否稳定；为了提高系统的可靠性，对存储器进行可靠性测试是十分必要的；在介绍了存储器电路结构和故障的基础上，对某含有RAM存储器的CPU板进行了基于边界扫描的BIT测试性设计和改造，并对系统中的RAM芯片进行了测试性验证；实验结果表明，改造后的电路系统能够实现RAM自测试功能，且故障定位准确，达到了预期的设计目的，可有效提高系统的可靠性。