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利用紫外－可见反射光谱对不同粒径的Ｎｄ２Ｏ３纳米晶进行了光吸收特性研究。对其谱带的认证发现，随着样品粒径的变小，部分ｆ→ｆ跃迁的窄带明显增宽并发生红移；另外，在３００～５５０ｎｍ区的边带显著增强。指认这个边带为Ｏ２ｐ→Ｎｄ４ｆ的荷移跃迁。利用表面光电压谱及场调制表面光电压谱对其光伏响应特性、谱带归属及界面电子行为进行了研究，并借助于电荷转移和带间跃迁的概念解释了Ｎｄ２Ｏ３纳米晶谱图的特征。更多还原