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基于双爱泼斯坦方圈测量法，采用两组双爱泼斯坦方圈（即2E（25-20）和2E（20-17.5））磁性能测量装置，对30P120硅钢试片进行了双方圈测量实验，考察了等效磁路长度的影响因素。通过三维仿真模拟，证明了双爱泼斯坦方圈法的前提条件是相应的搭接位置磁密相等，在其基础上，提出一种加权处理法，对25cm爱泼斯坦方圈不同部位（其铁轭中段均匀区和角部搭接区以及两者之间的影响区）的总比损耗所确定的等效磁路长度进行加权处理，确定其实际有效的磁路长度，并与双方圈法进行比较分析。既排除方圈角部双搭接结构区域被测试样磁