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为了解决系统芯片（SoC）测试过程中自动测试设备（ATE）在存储空间以及带宽等方面所面临的问题，本文提出了一种新的基于变长数据块相关性统计的测试数据压缩和解压方法．以测试向量为单位，先用算法确定一个具有最好相关性的数据块作为该向量的参考数据块，再利用它与该向量中数据块的相关性进行压缩．且每个向量的参考数据块长度相互独立．其解压结构只需要一个有限状态机（FSM）、一个5位暂存器和一个与参考数据块等长的循环扫描移位寄存器（CSR）即可，硬件开销小，对ISCAS-89标准电路Mintest集的压缩结果表明，本文