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本文从理论上研究了光纤折射率变化与色散的关系。光纤色散变化约正比于光纤纵向结构参数的变化。理论分析结果表明,为了把W型色散平坦光纤的色散控制在±1ps/km/nm,其纤芯半径和折射率差的纵向偏差必须分别小于0.04μm和0.014％。对于VAD法制作的W形色散平坦光纤,其纵向参数标准偏差的测量表明:引起色散偏差的主要原因是纵向纤芯半径偏差。纤芯半径的实际标准偏差估计不超过0.03μm。