热电离质谱全蒸发技术在钚同位素丰度测量中的应用

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对影响热电离质谱全蒸发测量的主要因素进行研究,包括点样量、同质异位素的干扰等,并将全蒸发技术与传统测量技术测量IRMM-086的结果进行对比。结果表明,全蒸发技术可在更少的点样量下获得比传统测量法更佳的测量精度,当同位素比值大于10-4时,结果与标准值偏差小于2σ。在50 ng IRMM-086点样量下,全蒸发测量的240Pu/239Pu、241Pu/239Pu、242Pu/239
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