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基于相关理论,提出了一种非接触式测量面内位移的数字标记点识别方法.该方法能应用于物体变形前后标记点的识别.相对于其它光学测量方法而言,该技术实验过程简单,能够应用于小变形、大变形等不同的变形范围.本文还将这一方法应用于高分子薄膜材料的时间特性实验测试,结果表明,此方法可有效用于柔度较大材料的变形测量.