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我国已经将Se75γ射线探伤技术引进到了设备安装质量检测当中,一般的薄壁小型球形储罐质量检测要进行100%RT的探伤。目前的X射线探伤技术,不但需要的探伤时间长,效率低,而且工作量非常大。Ir192进行全景曝光,其底片的灵敏度不够高,而Se75灵敏度高于Ir192,并且Se75的适用厚度范围正好弥补Ir192。