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建立了功率MOS器件单粒子烧毁、栅穿效应的等效电路模型,介绍了模型参数提取方法.采用PSPICE电路模拟程序,对单粒子烧毁、栅穿效应机理进行了模拟和分析,建立了利用Cf-252裂片源模拟空间重离子单粒子烧毁、栅穿效应的测试装置.实验结果表明,本文建立的模拟方法、测试系统和实验方法是可行的和可靠的.