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当前的温补晶振测试系统受频率测量容量制约，测试效率不高，本文提出了一种基于直接测频法的并行频率测量方法，并采用该方法实现了并行TCXO测试系统。该测试系统已经可以对至少100颗TCXO同时进行测试，且测试容量还可以进一步增加。该测试系统的频率相对测量误差低于±4×10^-9，完全符合目前TCXO的设计和生产精度要求。应用该并行测试系统可显著提高TCXO测试与生产的效率。