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原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM），又称扫描力显微镜（Scanning Force Microscopy，SFM），是扫描探针显微镜（Scanning probe microscopy，SPM）的一种。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁与斯坦福大学的Calvin Quate于一九八五年所发明。