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A Novel Technique to Measure Gain Spectrum for Fabry-Perot Semiconductor Lasers
【机 构】
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StateKeyLaboratoryonIntegratedOptoelectronics,InstituteofSemiconductors,ChineseAcademyofSciences,P.O
【出 处】
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光学学报
【发表日期】
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2003年23期
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期刊
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