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通过数值模拟研究了厚靶后表面在冲击加载下早期的几何变形特征,计算结果表明：厚靶变形存在一个由前凸型翻转为内凹型的时间窗口期,与传统研究薄靶的前凸型几何变形存在差异。结合电探针阵列测试方法获得的实验结果,从一个方面解释了工程实验中重复性不强的原因,因为这个窗口期非常敏感,与电探针阵列与后表面的距离密切相关。