【摘 要】
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内建自测试(BIST)是解决系统芯片(SoC)测试问题的首选可测性设计方法。为了缩短SoC中的BIST测试时间,应该使尽可能多的BIST模块并行测试。然而过度的并行会引起测试功耗过高,
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内建自测试(BIST)是解决系统芯片(SoC)测试问题的首选可测性设计方法。为了缩短SoC中的BIST测试时间,应该使尽可能多的BIST模块并行测试。然而过度的并行会引起测试功耗过高,对SoC产生不利的影响。为了改善这个问题,提出了基于多相测试时钟以及在峰值功耗的限制下,通过遗传算法对各BIST模块进行时钟相位分配与时序安排的优化调度算法,使SoC在测试时间得到优化。通过对ISCAS标准电路组成的SoC进行算法仿真,实验结果表明这种方法可以有效地组织测试,提高测试效率。
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