半导体高功率量子阱激光器退火后的电噪声

来源 :吉林大学学报:理学版 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jiguso198735
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在环境温度和工作电流下,对808 nm高功率量子阱激光器进行老化实验,发现在老化过程中一些劣质器件电噪声谱密度呈下降趋势,产生退火效应.本文应用初始性缺陷(高温高能条件下所形成的缺陷)和非初始性缺陷理论,探讨了器件发生退火及早期失效的原因.
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