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采用超声Δ衍射法和TOFD法对模拟缺陷进行检测,得出了缺陷检测波形图和B/C扫描图。对比分析了超声Δ衍射法与TOFD法的检测结果。实验表明利用超声Δ衍射法能够识别近表面垂直表面的面状缺陷,有效地对缺陷进行定位,能够很好地克服表面盲区,对缺陷的检测识别能力不受缺陷方向限制。从检测结果数据可以看出超声Δ衍射法的检测灵敏度和缺陷识别能力优于TOFD法。