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基于部分相干光成像理论,结合X射线微分相衬成像特点,给出有限大小焦斑光源物体微分相衬成像干涉条纹强度分布.建立基于吸收光栅微分干涉条纹探测模型,该模型给出可见光探测器探测强度表达式.根据光强分布,提出一种新的相位恢复算法,该算法仅需两幅物体曝光图像,相对旧算法,减少了物体曝光次数,有利于减少物体X射线剂量的吸收.模拟实验验证了该算法的有效性