【摘 要】
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The analysis of Y aperture element frequency selective surface (FSS) using the spectral domain method and the moment method is presented. With the vacuum depositing and photolithography, the corresponding Y aperture element FSS was produced, and it was te
【机 构】
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ChangchunInstituteofOptics,FineMechanicsandPhysics,ChineseAcademyofSciences,Changchun130033GraduateS
【出 处】
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ChineseOpticsLetters
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The analysis of Y aperture element frequency selective surface (FSS) using the spectral domain method and the moment method is presented. With the vacuum depositing and photolithography, the corresponding Y aperture element FSS was produced, and it was tested in the microwave darkroom. The calculated and measured results are in good agreement.
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