【摘 要】
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本文从一般模型出发,导出了微粒场远场同轴全息图和再现实象面上的光强分布的普遍表达式.给出了全息图条纹对比度、记录介质的分辨率要求和可允许的微粒最大位移的普遍公式.完善和普遍化了微粒场同轴全息术的理论体系.
【机 构】
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中国科技大学近代物理系,合肥230026
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本文从一般模型出发,导出了微粒场远场同轴全息图和再现实象面上的光强分布的普遍表达式.给出了全息图条纹对比度、记录介质的分辨率要求和可允许的微粒最大位移的普遍公式.完善和普遍化了微粒场同轴全息术的理论体系.
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