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介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试（BIST）。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后，讨论了MemBIST、LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点，分析了这几种测试方法的优缺点。
BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用
【摘 要】
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介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试（BIST）。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后，讨论了MemBIST、LogicBIST等常用BIST测试
【机 构】
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景德镇陶瓷学院
【出 处】
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单片机与嵌入式系统应用
【发表日期】
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2009年9期
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