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X线头影测量技术自1931年由Broadbent开创以来,便成为研究颅面生长发育、牙颌畸形机理的重要手段,在正畸与正颌外科临床与科研中一直具有重要作用.其历史发展可分为3个阶段:(1)手工描点与测量阶段;(2)计算机辅助测量分析阶段;(3)全自动X线头影测量分析系统阶段.下面就国内外在此项研究中的研究现状作一综述.