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本文介绍一种新的焦面检测方法,以位置敏感探测器PSD作为检焦器件对光学系统的实际焦面进行检测。该方法原理简单、处理快速方便、检测精度较高,特别适用于对透镜截距的测量和胶片摄影系统的精密调焦。还讨论了使用PSD测量先学系统其它参数的方法以及影响PSD测量精度的主要因素。文中还将PSD与CCD等器件做了一些比较,充分肯定了PSD驱动电路简单、处理速度快和分辨率高等优点。