国产晶体管的长期贮存可靠性

来源 :第十三届全国可靠性物理学术讨论会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:a123458a
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测试了存贮24-37年的国产14种型号晶体管的输出特性.贮存37年的3DK7F 100只中,1只发生致命性失效;4只晶体管的共射极直流电流放大倍数hFE减小超规范失效,其最大退化率为-50[%],年均退化率-1.35[%].存贮29年的3DG101F,7只中有3只hFE的减小超过-30[%],占该批晶体管43[%],hFE最大退化从110减小到73,退化率为-34[%].年均退化率-1.2[%].存贮30年的J3AX54B hFE增加幅度最大,从120增加到134,增加了12[%].年均增加0.4[%].测试结果表明:在长期贮存中,晶体管的输出特性会发生退化;hFE值即有增加,也有减小.
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