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平面光学元件的光圈数是反映光学元件面形质量的重要参数。通过分析检测原理与方法,设计了一套应用光学技术、CCD成像技术、图像处理技术与计算机软件技术的检测系统。实验表明：该检测系统具有客观性强、易操作、准确度较高等特点。
平面光学元件光圈数检测系统研究
【摘 要】
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平面光学元件的光圈数是反映光学元件面形质量的重要参数。通过分析检测原理与方法,设计了一套应用光学技术、CCD成像技术、图像处理技术与计算机软件技术的检测系统。实验表
【机 构】
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上海第二工业大学
【出 处】
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光电子技术
【发表日期】
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2009年3期
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