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用MOCVD方法生长了n^+-InP/n-InP/SI-InP材料,以HfO2为介质膜吵蒸发和选择化学腐蚀研制成栅宽0.002mm、栅长为0.2mm的具有蘑菇状栅极结构的InP MISFET。真流特性测量表明,跨导gm=80-115ms/mm,开启电压VT≌-3.62V,沟道的有效电子迁移率ueff=674cm^2/V·S,界面态密度Nss=9.56×10^11cm^-2。设计计算的特征频率fT≌