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在垄三栽培(70cm垄三行栽培,每公顷保苗30万株)和窄行密植栽培(45cm窄行密植栽培,每公顷保苗45万株)中,利用植物光谱仪测定受害叶片的光谱反射率变化。结果表明,大豆蚜虫危害程度可以在大豆叶片的光谱中得到响应,且近红外区比可见光区更明显。大豆植株受蚜虫危害后,其株高、SPAD(单株叶绿素相对含量)、叶面积和地上部干重均有所下降。不同时期两种栽培模式下受大豆蚜虫危害的植株与正常植株相比,其株高和叶面积差异都达到了显著水平。SPAD值表现略有不同,垄三栽培模式下,受虫害植株与正常植株间差异显著;密植栽培