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深入理解TD-LTE基站杂散辐射的测试方法,可以为相关开发、网络规划或者优化提供客观标准。测试方法的深入研究通过三个方面展开：一是分析测试平台环境,二是讨论频谱分析仪相关设置的区别,三是对测量精度进行分析。结果表明测试系统精度主要由两部分组成：客观上依赖于频谱仪本身性能,同时选择合理的测试平台能够使得测试系统精度最优化;主观上依赖于通过对频谱仪的合理设置,能够使得测试结果反映微弱信号的实际功率电平。