用X光光刻法制备亚波长抗反射结构

来源 :微细加工技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wwqq1200
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
为了提高太阳电池的转换效果,降低反射光栅的偏振敏感性,开发了一种新的抗反射结构的微细加工技术。首先用X光光刻在PMMA光刻胶上得到相应的亚微米级的线宽图形,再利用显影技术获得了高深宽比的立体亚波长纳米结构,即抗反射结构。设计了适用于可见光波段的二维亚波长抗反射光栅,用X光光刻制作工艺在硅衬底上进行了实验制备。用此纳米加工技术获得了线宽为150 nm、高度约为450 nm(即深宽比为3.0)的PMMA减反射结构。同时还优化了曝光近接间隔、曝光剂量、显影时间等X光光刻参数。
其他文献
随着信息化技术快速发展,信息技术已逐步渗透到了各行各业,信息技术已经成为了支撑当今经济活动和生活的基石.电子信息技术在竞技体育赛事中的应用,为运动员运动技术诊断、运