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由于普通光电二极管阵列检测器无法克服光源波动造成的影响,故设计开发了一种双光束光电二极管阵列检测器.该检测器采用光导纤维束将光源发出的光分成两束,在斩光器的调制下分时射入样品吸收池和参比吸收池.透射出的光信号通过光导纤维束射到狭缝上,被凹面光栅分光成像于光电二极管阵列上.在斩光器和后续电路的配合下,实现了在同一个光电二极管阵列上信号光光谱、参考光光谱和暗电流的分时测量.由于采用参考光光谱和光电二极管阵列暗电流对信号光谱进行实时补偿,可以使基线短期噪声降低为1×10-5AU,漂移降低为1×