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影响液晶显示器（ Liquid Crystal Display ，LCD）产品合格率的因素众多，在诸多因素中找出影响产品质量的关键因素，是一个有价值的研究领域。采用基于关联规则的C4．5决策树算法对LCD生产数据进行挖掘，该方法首先挖掘出对合格率有影响的关联因素作为新属性，再对所有的新属性生成决策树模型，进而找到影响生产的关键属性。基于关联规则的C4．5决策树算法考虑了联合影响的因素，更深层地挖掘潜在的质量影响因素，同时降低属性的冗余度。实验表明该算法为企业质量管理的改进提供决策支持。