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逻辑簇边界扫描测试相关问题及解决方案
逻辑簇边界扫描测试相关问题及解决方案
来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:gin901122
【摘 要】
:
逻辑簇的边界扫描测试存在一些不可忽视的重要问题。分析了这些问题的影响,提出了相应措施,并介绍了结合BIST技术进行逻辑簇测试的方法。
【作 者】
:
王宁
张扬
伍逸枫
【机 构】
:
空军第一航空学院航空电子工程系
【出 处】
:
半导体技术
【发表日期】
:
2006年6期
【关键词】
:
边界扫描
测试
逻辑簇
内建自测试
boundary scan
test
logic cluster
BIST
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逻辑簇的边界扫描测试存在一些不可忽视的重要问题。分析了这些问题的影响,提出了相应措施,并介绍了结合BIST技术进行逻辑簇测试的方法。
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