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研究发展了一种Si衬底上低温外延生长3C-SiC的方法.采用LPCVD生长系统,以SiH4和C2H4为气源,在超低压(30Pa)、低温(900℃)的条件下,在Si(111)衬底上外延生长出了高质量的3C-SiC薄膜材料.采用俄歇能谱(AES)、X射线衍射(XRD)和原子力显微镜(AFM)等分析手段研究了SiC薄膜的外延层组分、晶体结构及其表面形貌.AES结果表明薄膜中的Si/C的原子比例符合SiC的理想化学计量比,XRD结果显示了3C-SiC外延薄膜的良好晶体结构, AFM揭示了3C-SiC薄膜的良好的表