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基于March C＋算法,设计了一种基于Scan chain的Block RAM为测试对象的串/并行BIST电路。在电路内部自身生成测试向量,不需要外部施加激励,并依靠自身决定得到测试结果是否正确。该电路既可以有效对Block RAM进行准确校验和故障定位,又不会因BIST测试增加PAD的数量。最后,对设计方法结果进行了仿真验证。