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V2O5在活性焦上的分散性很难用XRD、EXAFS等仪器表征。采用化学吸附法表征了V2O5在活性焦表面的团聚程度，核心是根据V2O5/AC中能吸附、氧化SO2的V2O5晶格氧（有效晶格氧）的量，度量V2O5分子的团聚程度。结果表明，在所采用的条件范围内，随V2O5负载量的增加，V2O5在活性焦表面的团聚程度加大，但团聚体的个数变化不大；活性焦比表面积、灰分含量、O和N含量的差异对V2O5的团聚程度没有影响。