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金属机箱是一种广泛采用的屏蔽措施,然而,由于电子设备的散热、对外数据交换需要,机箱上会有一些开孔,从而导致电磁泄漏,对机箱的屏蔽效能产生影响。本文采用有限元法对开孔形状、数量、位置对机箱屏蔽效能的影响进行了分析,给出了屏蔽效能的仿真曲线,得出了屏蔽效能与开孔形状、数量、位置的关系,能为设备机箱的开孔设计提供有益的参考。