一种面向设计寿命全过程的电子系统可靠性分配法

来源 :电子产品可靠性与环境试验 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yyk20071999
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提出一种基于等分配法的、面向各单元设计寿命全过程的电子系统可靠性分配法。该方法在保证满足系统设计寿命末可靠性指标的前提下,使各单元在设计寿命过程中各个时期的可靠度接近,从而避免出现可靠度显著地低于其它单元的"短板"单元。基于某"软件星"有效载荷的算例,演示了所提出的可靠性分配法的应用流程,比较了该方法与传统等分配法的分配结果。
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