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波导多层存储是一种三维光存储技术，如何对光盘信息坑散射光强的测量是其须解决的关键技术之一。本文介绍了利用光学共轭技术测量光盘单个信息坑散射光强的实验原理，给出了采用光电倍增管测量光盘信息坑散射光强的实验结果。结果表明，利用该装置可以检测光盘有无信息坑时散射光强的变化，实现对信息坑散射光强及信息坑的测量，测出信息坑的大小与理论值一致。