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运用密度泛函理论，计算了4～24个单元的准一维单链、双链、三元环、四元环管状构型SiO2团簇的振动频率。在不同构型的红外光谱中，侧重研究了频率小于300cm^-1的低频处的弯曲振动。该类振动的频率和强度有很强的尺寸效应。频率与团簇长度呈指数关系，并且指数随直径变化表明它依赖于团簇的几何维数。实验发现此类红外振动只存在于长度0．8nm～5．5nm的SiO2团簇中，揭示出实验和理论上可用于表征特定长度范围的纳米团簇。