硅中注入硼的异常扩散

来源 :固体电子学研究与进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户:woyaodefeixiang
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<正> 浅结制备是超大规模集成电路发展的关键技术之一。硅中硼、磷等杂质注入,在退火时发生异常扩散,使浅结的控制困难。异常扩散是一个瞬态快速扩散过程。对于硼,在退火开始时,杂质分布尾部推移极快,随之减慢,恢复正常扩散。这一过程用衰变时间表征。
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