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为确定真空校准系统测量过程是否稳定受控，文章对其设计并实施了统计控制，这也是我院首次将统计控制方法应用在测量过程的控制。在采集测量控制数据基础上，建立了控制模型，应用t检验和F检验两种统计检验法，计算得到统计量，对测量过程是否受控进行判定。实施结果表明，真空校准系统测量过程处于稳定受控状态，测量结果真实可靠。