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报道多孔硅(PS)的表面钝化对其光致发光(PL)和电致发光(EL)的影响。PL和EL谱表明,经钝化处理的PS的PL和EL强度明显增强,且发光峰位较大蓝移;存放实验表明,经钝化处理的PS的PL和EL发光强度和发光峰位具有较好的稳定性;I~V曲线显示,经钝化处理的PS发光器件具有较低的启动电压。这些结果表明:用钝化处理的方法是提高PS的PL和EL强度和稳定性及改善其器件性能的有效途径。