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集成电路老化的影响,随着集成工艺尺寸越来越小而越来越明显。其主要影响表现在增加了电路元件的输入-输出信号的延迟,从而降低了电路工作能力。提出一种基于标准库单元的老化监测,并介绍本设计的简单性和灵活性。设计集成电路时可以设计使用不同的老化监测模块,通过阅读放置在每个监控寄存器中的"年龄代码"来确定电路元器件的"年龄",从而预防和监测电路的故障。