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分析了扫描型探测器时间延迟积分级工作过程，指出了摆镜扫描线性度和稳定性对系统性能的影响；以576×6探测器为例，推导出了摆镜控制参量与热像仪列周期参量之间的数学关系式，并对两参量在实际系统中的应用做出了限制。最后测试参数证明了理论推导的正确性。为扫描型热像仪尤其576×6热像仪的扫描控制与探测器列周期之间的匹配提供了理论依据。