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针对SoC芯片中存储器模块的测试问题，在结合设计工具的基础上，提出了存储器的测试结构和方法，并且讨论了存储器模型的应用与调试。
存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用
【摘 要】
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针对SoC芯片中存储器模块的测试问题，在结合设计工具的基础上，提出了存储器的测试结构和方法，并且讨论了存储器模型的应用与调试。
【机 构】
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华东计算技术研究所
【出 处】
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计算机工程
【发表日期】
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2008年B09期
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