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为了完成对类镜面物体的面形测量,首先分析了光学三维面形测量对物体含有高亮区的反光崎岖表面无法完整测量的原因,然后从测量系统的照明方式出发,提出一种基于结构光的测量的方法。该结构光采用正弦光栅。在双频傅里叶变换轮廓术的基础上,通过起偏器和检偏器的作用,消除了高光表面反射对摄影系统的影响。该方法可以重建类镜面物体,测量精度较原来提高了3倍。理论分析和模拟结果均证明提出的测量方法的可行性和有效性。