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在DRAM（Dynamic Random Access Memory动态随机存储器）测试中,由于芯片间性能的差异,经过功能测试后,芯片读出的数据不相同,因此不同芯片的输入输出IO（Input Output）管脚不能共享测试通道。本文通过一种测试模式的设计,实现了两个DRAM芯片间共享IO测试通道,突破了DRAM同测数受爱德万专用测试机台IO测试通道的限制,缩短了测试时间,提升了测试效率。